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    將被用來測試的產品 如元器件、組件、部件或整機，放入高低溫試驗箱中進行試驗時，為了保證被測試產品周圍環(huán)境能滿足試驗規(guī)范所規(guī)定的環(huán)境條件，高低溫試驗箱工作空間尺寸與被測試產品外廓尺寸之間應該遵循以下幾點規(guī)定：

    a 被測試產品的體積（W×D×H）不能超過試驗箱有效工作空間的（20-35）（推薦選用20）。對于在試驗中發(fā)熱的產品推薦選用不大于30 。

    b 被測試產品的迎風斷面積與該斷面上試驗箱工作腔總面積之比不大于（35-50）（推薦選用35）。

    c 被測試產品外廓表面距試驗箱壁的距離至少應該保持100-150mm，（推薦選用150mm）。

    高低溫試驗箱性能指標符合GB/T2423.1-2001 電工電子產品基本試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法,GB/T2423.2-2001 電工電子產品基本試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法,GB2424.1-89 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導則。